Quantitative Accelerated Life Testing of MEMS Accelerometers

Quantitative Accelerated Life Testing (QALT) is a solution for assessing the reliability of Micro Electro Mechanical Systems (MEMS). A procedure for QALT is shown in this paper and an attempt to assess the reliability level for a batch of MEMS accelerometers is reported. The testing plan is applicat...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Bâzu, Marius, Gălăţeanu, Lucian, Ilian, Virgil Emil, Loicq, Jerome, Habraken, Serge, Collette, Jean-Paul
التنسيق: Artigo
اللغة:Inglês
منشور في: Molecular Diversity Preservation International (MDPI) 2007
الموضوعات:
Full Research Paper
الوصول للمادة أونلاين:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3965216/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/28903265
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

مواد مشابهة