تحميل...
Potentiometric-scanning ion conductance microscopy for measurement at tight junctions
Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM) has been developed originally for high-resolution imaging of topographic features. Recently, we have described a hybrid voltage scanning mode of SICM, termed Potentiometric-SICM (P-SICM) for recording transmembrane ionic conductance at specific nanostructur...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Landes Bioscience
2013
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3805658/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24533255 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.4161/tisb.25585 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|