Focused ion beam milling of microchannels in lithium niobate

We present experimental and simulation results for focused ion beam (FIB) milling of microchannels in lithium niobate in this paper. We investigate two different cuts of lithium niobate, Y- and Z-cuts, and observe that the experimental material removal rate in the FIB for both Y-cut and Z-cut sample...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Sridhar, Manoj, Maurya, Devendra K., Friend, James R., Yeo, Leslie Y.
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: American Institute of Physics 2012
Những chủ đề:
Special Topic: Selected Papers from the Second Conference on Advances in Microfluidics and Nanofluidics and Asia-Pacific International Symposium on Lab on Chip, Singapore, 2011 (Guest Editors: Zhiping Wang and Charles Yan Chun)
Truy cập trực tuyến:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3365338/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/22662086
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1063/1.3673260
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Những quyển sách tương tự