Φορτώνει......

New developments in fabrication of high-energy-resolution analyzers for inelastic X-ray spectroscopy

In this work new improvements related to the fabrication of spherical bent analyzers for 1 meV energy-resolution inelastic X-ray scattering spectroscopy are presented. The new method includes the use of a two-dimensional bender to achieve the required radius of curvature for X-ray analyzers. The adv...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Said, Ayman H., Sinn, Harald, Divan, Ralu
Μορφή: Artigo
Γλώσσα:Inglês
Έκδοση: International Union of Crystallography 2011
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3268696/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/21525659
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S0909049511001828
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!