Double mutant gating perturbation analysis predicts a high conformational stability of the domain IV S6 segment of the voltage-gated Na(+ )channel

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Detalhes bibliográficos
Main Authors: Cervenka, René, Zarrabi, Touran, Lukács, Péter, König, Xaver, Hilber, Karlheinz, Todt, Hannes
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: BioMed Central 2009
Assuntos:
Meeting Abstract
Acesso em linha:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC2778895/
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1186/1471-2210-9-S2-A25
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