Wird geladen...

Dielectric fluctuations in force microscopy: Noncontact friction and frequency jitter

Electric force microscopy, in which a charged probe oscillates tens to hundreds of nanometers above a sample surface, provides direct mechanical detection of relaxation in molecular materials. Noncontact friction, the damping of the probe’s motions, reflects the dielectric function at the resonant f...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Yazdanian, Showkat M., Marohn, John A., Loring, Roger F.
Format: Artigo
Sprache:Inglês
Veröffentlicht: American Institute of Physics 2008
Schlagworte:
Online Zugang:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC2674627/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/18554042
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1063/1.2932254
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!