Načítá se...
Noncontact Dielectric Friction
Dielectric fluctuations are shown to be the dominant source of noncontact friction in high-sensitivity scanning probe microscopy of dielectric materials. Recent measurements have directly determined the friction acting on custom-fabricated single-crystal silicon cantilevers whose capacitively charge...
Uloženo v:
| Hlavní autoři: | , , |
|---|---|
| Médium: | Artigo |
| Jazyk: | Inglês |
| Vydáno: |
2006
|
| Témata: | |
| On-line přístup: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC2323026/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/16869550 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1021/jp061865n |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|