تحميل...
Bias Temperature Instability of MOSFETs: Physical Processes, Models, and Prediction
CMOS technology dominates the semiconductor industry, and the reliability of MOSFETs is a key issue. To optimize chip design, trade-offs between reliability, speed, power consumption, and cost must be carried out. This requires modeling and prediction of device instability, and a major source of ins...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
MDPI AG
2022-04-01
|
| سلاسل: | Electronics |
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://www.mdpi.com/2079-9292/11/9/1420 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|