Đang tải...
Bias Temperature Instability of MOSFETs: Physical Processes, Models, and Prediction
CMOS technology dominates the semiconductor industry, and the reliability of MOSFETs is a key issue. To optimize chip design, trade-offs between reliability, speed, power consumption, and cost must be carried out. This requires modeling and prediction of device instability, and a major source of ins...
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , , , , , |
|---|---|
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
MDPI AG
2022-04-01
|
| Loạt: | Electronics |
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://www.mdpi.com/2079-9292/11/9/1420 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|