Đang tải...

Suppression of transient enhanced diffusion in sub-micron patterned silicon template by dislocation loops formation

We investigate the evolution of two dimensional transient enhanced diffusion (TED) of phosphorus in sub-micron scale patterned silicon template. Samples doped with low dose phosphorus with and without high dose silicon self-implantation, were annealed for various durations. Dopant diffusion is probe...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Kuan-Kan Hu, Ruey-Dar Chang, Wei Yen Woon
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: AIP Publishing LLC 2015-10-01
Loạt:AIP Advances
Truy cập trực tuyến:http://dx.doi.org/10.1063/1.4934674
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!