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Terahertz detectors from Be-doped low-temperature grown InGaAs/InAlAs: Interplay of annealing and terahertz performance

The influence of post-growth annealing on the electrical properties, the transient carrier dynamics and the performance as THz photoconductive receiver of Beryllium (Be) doped InGaAs/InAlAs multilayer heterostructures grown at 130 °C in a molecular beam epitaxy (MBE) system was investigated. We stud...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: B. Globisch, R. J. B. Dietz, S. Nellen, T. Göbel, M. Schell
Format: Artigo
Sprache:Inglês
Veröffentlicht: AIP Publishing LLC 2016-12-01
Schriftenreihe:AIP Advances
Online Zugang:http://dx.doi.org/10.1063/1.4971843
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