A carregar...

Terahertz detectors from Be-doped low-temperature grown InGaAs/InAlAs: Interplay of annealing and terahertz performance

The influence of post-growth annealing on the electrical properties, the transient carrier dynamics and the performance as THz photoconductive receiver of Beryllium (Be) doped InGaAs/InAlAs multilayer heterostructures grown at 130 °C in a molecular beam epitaxy (MBE) system was investigated. We stud...

ver descrição completa

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Main Authors: B. Globisch, R. J. B. Dietz, S. Nellen, T. Göbel, M. Schell
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: AIP Publishing LLC 2016-12-01
Colecção:AIP Advances
Acesso em linha:http://dx.doi.org/10.1063/1.4971843
Tags: Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!