Načítá se...

Terahertz detectors from Be-doped low-temperature grown InGaAs/InAlAs: Interplay of annealing and terahertz performance

The influence of post-growth annealing on the electrical properties, the transient carrier dynamics and the performance as THz photoconductive receiver of Beryllium (Be) doped InGaAs/InAlAs multilayer heterostructures grown at 130 °C in a molecular beam epitaxy (MBE) system was investigated. We stud...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři: B. Globisch, R. J. B. Dietz, S. Nellen, T. Göbel, M. Schell
Médium: Artigo
Jazyk:Inglês
Vydáno: AIP Publishing LLC 2016-12-01
Edice:AIP Advances
On-line přístup:http://dx.doi.org/10.1063/1.4971843
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!