Yüklüyor......

Review: Cantilever-Based Sensors for High Speed Atomic Force Microscopy

This review critically summarizes the recent advances of the microcantilever-based force sensors for atomic force microscope (AFM) applications. They are one the most common mechanical spring–mass systems and are extremely sensitive to changes in the resonant frequency, thus finding numerous applica...

Ful tanımlama

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar: Bernard Ouma Alunda, Yong Joong Lee
Materyal Türü: Artigo
Dil:Inglês
Baskı/Yayın Bilgisi: MDPI AG 2020-08-01
Seri Bilgileri:Sensors
Konular:
Online Erişim:https://www.mdpi.com/1424-8220/20/17/4784
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!