Đang tải...

Review: Cantilever-Based Sensors for High Speed Atomic Force Microscopy

This review critically summarizes the recent advances of the microcantilever-based force sensors for atomic force microscope (AFM) applications. They are one the most common mechanical spring–mass systems and are extremely sensitive to changes in the resonant frequency, thus finding numerous applica...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Bernard Ouma Alunda, Yong Joong Lee
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: MDPI AG 2020-08-01
Loạt:Sensors
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://www.mdpi.com/1424-8220/20/17/4784
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!