Đang tải...
Review: Cantilever-Based Sensors for High Speed Atomic Force Microscopy
This review critically summarizes the recent advances of the microcantilever-based force sensors for atomic force microscope (AFM) applications. They are one the most common mechanical spring–mass systems and are extremely sensitive to changes in the resonant frequency, thus finding numerous applica...
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , |
|---|---|
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
MDPI AG
2020-08-01
|
| Loạt: | Sensors |
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://www.mdpi.com/1424-8220/20/17/4784 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|