Načítá se...
Influence Mechanism of Cu Layer Thickness on Photoelectric Properties of IWO/Cu/IWO Films
Transparent conductive IWO/Cu/IWO (W-doped In<sub>2</sub>O<sub>3</sub>) films were deposited on quartz substrates by magnetron sputtering of IWO and Cu in the Ar atmosphere. The X-ray diffraction (XRD) patterns identified the cubic iron−manganese ore crystal structu...
Uloženo v:
| Hlavní autoři: | , , , , , , |
|---|---|
| Médium: | Artigo |
| Jazyk: | Inglês |
| Vydáno: |
MDPI AG
2019-12-01
|
| Edice: | Materials |
| Témata: | |
| On-line přístup: | https://www.mdpi.com/1996-1944/13/1/113 |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!
|