লোডিং...
X-ray Diffraction Imaging of Deformations in Thin Films and Nano-Objects
The quantification and localization of elastic strains and defects in crystals are necessary to control and predict the functioning of materials. The X-ray imaging of strains has made very impressive progress in recent years. On the one hand, progress in optical elements for focusing X-rays now make...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | , , , |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
MDPI AG
2022-04-01
|
| মালা: | Nanomaterials |
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://www.mdpi.com/2079-4991/12/8/1363 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|