Time domain thermoreflectance measurements and phonon gas modeling of the thermal conductivity of silicon doped indium phosphide pertinent to quantum cascade lasers
The thermal conductivity of Si-doped thin films of indium phosphide grown via metalorganic vapour-phase epitaxy at different carrier concentrations and thicknesses was measured from 80 to 450 K using time domain thermoreflectance. Additionally, phonon gas modeling was conducted to characterize the v...
Պահպանված է:
| Հիմնական հեղինակներ: | , , , , , , , , |
|---|---|
| Ձևաչափ: | Artigo |
| Լեզու: | Inglês |
| Հրապարակվել է: |
AIP Publishing LLC
2023-04-01
|
| Շարք: | APL Materials |
| Առցանց հասանելիություն: | http://dx.doi.org/10.1063/5.0141252 |
| Ցուցիչներ: |
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|