QR رمز

2D mapping of plane stress crack-tip fields following an overload

The evolution of crack-tip strain fields in a thin (plane stress) compact tension sample following an  overload (OL) event has been studied using two different experimental techniques. Surface behaviour has been characterised by Digital Image Correlation (DIC), while the bulk behaviour has been char...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: P. J. Withers, P. Lopez-Crespo, M. Mostafavi, A. Steuwer, J. F. Kelleher, T. Buslaps
التنسيق: Artigo
اللغة:Inglês
منشور في: Gruppo Italiano Frattura 2015-06-01
سلاسل:Fracture and Structural Integrity
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://www.fracturae.com/index.php/fis/article/view/1485
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!