Yolo Based Defects Detection Algorithm for EL in PV Modules with Focal and Efficient IoU Loss

Considering the defect detection issues in electroluminescence (EL) of photovoltaic (PV) cell systems, lots of factors result in performance degradation, including defect diversity, data imbalance, scale difference, etc. Focal-EIoU loss, an effective defect detection solution for EL, is proposed bas...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلفون الرئيسيون:	Shen Ding, Wanting Jing, Hao Chen, Congyan Chen
التنسيق:	Artigo
اللغة:	Inglês
منشور في:	MDPI AG 2024-08-01
سلاسل:	Applied Sciences
الموضوعات:	EL defects in photovoltaic components YOLOv5 serial network Focal-EIoU loss EIoU
الوصول للمادة أونلاين:	https://www.mdpi.com/2076-3417/14/17/7493
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!