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Low-Temperature Formed Quaternary NiZrSiGe Nanocrystal Memory

This study investigated the formation of quaternary NiZrSiGe nanocrystal (NC) flash memory by using the sol-gel spin-coating method. A solution of nickel dichloride, zirconium tetrachloride, silicon tetrachloride, and germanium tetrachloride was used as a precursor to form the sol-gel thin film. Unl...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliografische Detailangaben
Hauptverfasser: Chia-Yu Wu, Huei Yu Huang, Chi-Chang Wu
Format: Artigo
Sprache:Inglês
Veröffentlicht: Elsevier 2015-08-01
Schriftenreihe:International Journal of Electrochemical Science
Schlagworte:
Online-Zugang:http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1452398123067366
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