Hard X-ray single-shot spectrometer of PAL-XFEL
A transmissive single-shot spectrometer has been developed to monitor shot-to-shot spectral structures in the hard X-ray beamline of the Pohang Accelerator Laboratory X-ray Free Electron Laser (PAL-XFEL). The established spectrometer comprises 10 µm-thick Si crystals bent to a radius of curvature of...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , , , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
International Union of Crystallography
2025-01-01
|
| سلاسل: | Journal of Synchrotron Radiation |
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://journals.iucr.org/paper?S1600577524009779 |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|