Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats

This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Hlavní autoři:	Viacheslav Zabudsky, Oleksandr Golenkov, Oleg Rikhalsky, Vladimir Reva, Sergij Korinets, Sergey Dukhnin
Médium:	Artigo
Jazyk:	Inglês
Vydáno:	Politehperiodika 2019-12-01
Edice:	Tekhnologiya i Konstruirovanie v Elektronnoi Apparature
Témata:	photodetectors emccd electron multiplying charge-coupled device measuring system photoelectric parameters
On-line přístup:	https://tkea.com.ua/index.php/journal/article/view/114
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!