Mechanical/Electrical Characterization of ZnO Nanomaterial Based on AFM/Nanomanipulator Embedded in SEM

ZnO nanomaterials have been widely used in micro/nano devices and structure due to special mechanical/electrical properties, and its characterization is still deficient and challenging. In this paper, ZnO nanomaterials, including nanorod and nanowire are characterized by atomic force microscope (AFM...

সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন

প্রধান লেখক:	Mei Liu, Weilin Su, Xiangzheng Qin, Kai Cheng, Wei Ding, Li Ma, Ze Cui, Jinbo Chen, Jinjun Rao, Hangkong Ouyang, Tao Sun
বিন্যাস:	Artigo
ভাষা:	Inglês
প্রকাশিত:	MDPI AG 2021-02-01
মালা:	Micromachines
বিষয়গুলি:	nanomanipulator atomic force microscope ZnO mechanical/electrical characterization piezoelectric property
অনলাইন ব্যবহার করুন:	https://www.mdpi.com/2072-666X/12/3/248
ট্যাগগুলো:	ট্যাগ যুক্ত করুন কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!