Background Rejection in Two-Photon Fluorescence Image Scanning Microscopy

We discuss the properties of signal strength and integrated intensity in two-photon excitation confocal microscopy and image scanning microscopy. The resolution, optical sectioning and background rejection are all improved over nonconfocal two-photon microscopy. Replacing the pinhole of confocal two...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلفون الرئيسيون:	Colin J. R. Sheppard, Marco Castello, Giorgio Tortarolo, Alessandro Zunino, Eli Slenders, Paolo Bianchini, Giuseppe Vicidomini, Alberto Diaspro
التنسيق:	Artigo
اللغة:	Inglês
منشور في:	MDPI AG 2023-05-01
سلاسل:	Photonics
الموضوعات:	confocal microscopy two-photon microscopy image scanning microscopy
الوصول للمادة أونلاين:	https://www.mdpi.com/2304-6732/10/5/601
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!