Optimized Multiple-Bit-Flip Soft-Errors-Tolerant TCAM using Machine Learning
Soft errors from radiations can change the data in electronic devices especially memory cells such as in TCAMs. The soft errors cause bit-flip errors that makes the data are corrupted in the network. This paper presents a novel machine learning for a multiple-bit-flip-tolerant TCAM that address soft...
சேமிக்கப்பட்டது:
| முதன்மை ஆசிரியர்கள்: | , |
|---|---|
| வடிவம்: | Artigo |
| மொழி: | Inglês |
| வெளியிடப்பட்டது: |
Universitas Andalas
2022-03-01
|
| தொடர்: | Jurnal Nasional Teknik Elektro |
| ஆன்லைன் அணுகல்: | https://jnte.ft.unand.ac.id/index.php/jnte/article/view/1007 |
| குறிச்சொற்கள்: |
டாக்ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
|