Electron fourier ptychography for phase reconstruction
Abstract Exit wavefunction reconstruction is important in transmission electron microscopy for structural studies. We describe electron Fourier ptychography and its application to phase reconstruction of both radiation-resistant and beam-sensitive materials. We demonstrate that the phase of the exit...
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| Principais autores: | , , , , , , , , , , , , |
|---|---|
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Inglês |
| Publicado em: |
Nature Portfolio
2025-10-01
|
| coleção: | Scientific Reports |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://doi.org/10.1038/s41598-025-21638-7 |
| Tags: |
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