MDT: A simple tool to facilitate dropcasting on in situ TEM MEMS chips
In situ transmission electron microscopy with holders based on the use of micro-electromechanical systems provides valuable insights into material kinetics, yet sample preparation remains complex due to fragile silicon nitride (Si3N4) windows and the risk of leaks and contamination during dropcastin...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Elsevier
2025-09-01
|
| سلاسل: | HardwareX |
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2468067225000446 |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|