Shape Measurement Method of Two-Dimensional Micro-Structures beyond the Diffraction Limit Based on Speckle Interferometry

A technique based on speckle interferometry for observing microstructures beyond the diffraction limit by detecting the spatial phase distribution of scattered light from microstructures has previously been reported. In this study, the development of this technique using a two-dimensional method is...

முழு விளக்கம்

நூற்பட்டியல் விவரங்கள்

முதன்மை ஆசிரியர்:	Yasuhiko Arai
வடிவம்:	Artigo
மொழி:	Inglês
வெளியிடப்பட்டது:	MDPI AG 2021-09-01
தொடர்:	Photonics
பொருள்கள்:	super-resolution two-dimensional analysis speckle interferometry detecting phase distribution
ஆன்லைன் அணுகல்:	https://www.mdpi.com/2304-6732/8/10/420
குறிச்சொற்கள்:	குறிச்சொல்லை சேர்க்கவும் டாக்‌ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!