Desarrollo de Hardware y Software de un Sistema de Espectroscopia de Reflectancia Difusa (DRS) para Medir la Temperatura del Sustrato Semiconductor in-situ

Se desarrolla un sistema de espectroscopia de reflectancia difusa (DRS) para medir la temperatura de materiales semiconductores en vacío ultra alto cámara. DRS es un método óptico para monitorear la temperatura de materiales semiconductores con la temperatura dependiente band gap. El sistema está ca...

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מידע ביבליוגרפי

מחבר ראשי:	Faramarz Sahra Gard
פורמט:	Artigo
שפה:	Inglês
יצא לאור:	Universidad Tecnologica Nacional 2021-08-01
סדרה:	Tecnología y Ciencia
נושאים:	espectroscopia de reflectancia difusa si-gaas n-gaas medidas de temperatura
גישה מקוונת:	https://rtyc.utn.edu.ar/index.php/rtyc/article/view/838
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