A single-event transient tolerant bandgap reference utilizing dual-modular-redundant (DMR) technique

—Bandgap reference (BG) is a crucial component commonly adopted in analog and mixed-signal systems. BG is vulnerable in space applications, which can lead to signal degradation and even subsequent module failure when subjected to heavy-ion strikes. This paper firstly proposes a radiation-hardened-by...

Szczegółowa specyfikacja

Opis bibliograficzny

Główni autorzy:	Jingtian Liu, Jianyang Wang, Lin Deng, Hongliang Lyu, Dongsheng Wang, Shi Xu, Deng Luo
Format:	Artigo
Język:	Inglês
Wydane:	Elsevier 2026-07-01
Seria:	Nuclear Engineering and Technology
Hasła przedmiotowe:	Bandgap reference Radiation-hardened-by-design (RHBD) Single-event transient (SET) Dual modular redundancy (DMR)
Dostęp online:	http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1738573326001543
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!