纳米CuCr50触头材料电弧侵蚀特性
近年来,纳米CuCr触头材料在截流水平、耐压能力等方面的表现优于微晶CuCr触头材料。笔者利用真空触点模拟装置和基于虚拟仪器的电器电寿命测试系统,研究了直流低电压、小电流下的纳米CuCr50触头材料的电弧侵蚀量与分断燃弧时间和触头表面形貌之间的关系,同时采用两种微晶CuCr50触头材料作为对比。利用电光分析天平纳米CuCr50触头材料的侵蚀量,利用电子扫描显微镜测量触头表面形貌。结果表明:纳米CuCr50触头材料的平均分断燃弧时间和侵蚀量均高于两种微晶CuCr50触头材料。纳米CuCr50触头表面Cr颗粒细化及均匀分布,有利于分散电弧。纳米CuCr50阴极触头表面电弧烧蚀比较均匀,而两种微晶C...
Bewaard in:
| Hoofdauteurs: | , , , , |
|---|---|
| Formaat: | Artigo |
| Taal: | Chinês |
| Gepubliceerd in: |
Editorial Department of High Voltage Apparatus
2012-01-01
|
| Reeks: | Gaoya dianqi |
| Onderwerpen: | |
| Online toegang: | http://www.zgydq.com/zh/article/doi/10.13296/j.1001-1609.hva.2012.05.014/ |
| Tags: |
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|