纳米CuCr50触头材料电弧侵蚀特性

近年来,纳米CuCr触头材料在截流水平、耐压能力等方面的表现优于微晶CuCr触头材料。笔者利用真空触点模拟装置和基于虚拟仪器的电器电寿命测试系统,研究了直流低电压、小电流下的纳米CuCr50触头材料的电弧侵蚀量与分断燃弧时间和触头表面形貌之间的关系,同时采用两种微晶CuCr50触头材料作为对比。利用电光分析天平纳米CuCr50触头材料的侵蚀量,利用电子扫描显微镜测量触头表面形貌。结果表明:纳米CuCr50触头材料的平均分断燃弧时间和侵蚀量均高于两种微晶CuCr50触头材料。纳米CuCr50触头表面Cr颗粒细化及均匀分布,有利于分散电弧。纳米CuCr50阴极触头表面电弧烧蚀比较均匀,而两种微晶C...

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Dades bibliogràfiques

Autors principals:	赵来军, 李震彪, 王珂, 邱安宁, 李慧杰
Format:	Artigo
Idioma:	Chinês
Publicat:	Editorial Department of High Voltage Apparatus 2012-01-01
Col·lecció:	Gaoya dianqi
Matèries:	纳米材料 CuCr材料 燃弧时间 电弧侵蚀
Accés en línia:	http://www.zgydq.com/zh/article/doi/10.13296/j.1001-1609.hva.2012.05.014/
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