The Fingerprints of Resonant Frequency for Atomic Vacancy Defect Identification in Graphene

The identification of atomic vacancy defects in graphene is an important and challenging issue, which involves inhomogeneous spatial randomness and requires high experimental conditions. In this paper, the fingerprints of resonant frequency for atomic vacancy defect identification are provided, base...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ

Հիմնական հեղինակներ:	Liu Chu, Jiajia Shi, Eduardo Souza de Cursi
Ձևաչափ:	Artigo
Լեզու:	Inglês
Հրապարակվել է:	MDPI AG 2021-12-01
Շարք:	Nanomaterials
Խորագրեր:	fingerprints atomic vacancy defects resonant frequencies graphene
Առցանց հասանելիություն:	https://www.mdpi.com/2079-4991/11/12/3451
Ցուցիչներ:	Ավելացրեք ցուցիչ Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!