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Polymer surface structures determined using ToF-SIMS

This article reviews the recent applications of time-of-flight secondary ion mass spectrometry in the determination of surface structures of semicrystralline and amorphous polymer films. Examples given include the determination of end-group distributions on semicrystalline polymer surfaces, lamellar...

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Principais autores: Chan Chi-Ming, Weng Lu-Tao, Lau Yiu-Ting R.
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: De Gruyter 2014-03-01
Colecção:Reviews in Analytical Chemistry
Assuntos:
chain folding
end groups
morphology
polymer blends
semicrystalline and amorphous polymer surfaces
structure of polymer thin films
tof-sims
Acesso em linha:https://doi.org/10.1515/revac-2013-0015
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