YOLO-WWBi: An Optimized YOLO11 Algorithm for PCB Defect Detection
The manufacturing quality of printed circuit boards (PCBs) significantly influences the functionality and life expectancy of electronic devices. This paper introduces a YOLO-WWBi based on improved YOLO11 framework method for the detection of surface defects. First, an improved weighted and re-parame...
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| Principais autores: | , |
|---|---|
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Inglês |
| Publicado em: |
IEEE
2025-01-01
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| Colecção: | IEEE Access |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://ieeexplore.ieee.org/document/10977983/ |
| Tags: |
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