Measurement of thermoelectric parameters of thin-film semiconductor materials using the Harman method
For the analysis of the measurement of thermoelectric parameters of semiconductors, the Harman pulsed method was used. The authors propose a new approach to determine the thermoelectric quality factor of thin semiconductor films in the temperature interval (300 ÷ 500) K by directly measuring a serie...
Збережено в:
| Автори: | , , |
|---|---|
| Формат: | Artigo |
| Мова: | Inglês |
| Опубліковано: |
Vasyl Stefanyk Carpathian National University
2019-10-01
|
| Серія: | Фізика і хімія твердого тіла |
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | http://journals.pu.if.ua/index.php/pcss/article/view/3974 |
| Теги: |
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|