EBGS-YOLOv5: A Lightweight Insulator Defect Detection Algorithm for Complex Inspection Scenarios

To address occlusion, multi-scale variations, and the susceptibility of small objects to false positives and missed detections during inspection in complex scenarios, an EBGS-YOLOv5 insulator defect detection algorithm is proposed based on the YOLOv5s network. First, the Efficient Channel Attention...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلفون الرئيسيون:	Dan Li, Tianxiang Ma, Da Zhang, Yanpeng Ji, Shiwei Xue, Zengxu Zhao
التنسيق:	Artigo
اللغة:	Inglês
منشور في:	IEEE 2026-01-01
سلاسل:	IEEE Access
الموضوعات:	Insulator defect detection C3ECA module BiFPN Ghost convolution SIOU
الوصول للمادة أونلاين:	https://ieeexplore.ieee.org/document/11598904/
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!