Electron Tomography of Pencil-Shaped GaN/(In,Ga)N Core-Shell Nanowires
Abstract The three-dimensional structure of GaN/(In,Ga)N core-shell nanowires with multi-faceted pencil-shaped apex is analyzed by electron tomography using high-angle annular dark-field mode in a scanning transmission electron microscope. Selective area growth on GaN-on-sapphire templates using a p...
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| Principais autores: | , , , |
|---|---|
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Inglês |
| Publicado em: |
SpringerOpen
2019-07-01
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| coleção: | Nanoscale Research Letters |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | http://link.springer.com/article/10.1186/s11671-019-3072-1 |
| Tags: |
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