Electron Tomography of Pencil-Shaped GaN/(In,Ga)N Core-Shell Nanowires

Abstract The three-dimensional structure of GaN/(In,Ga)N core-shell nanowires with multi-faceted pencil-shaped apex is analyzed by electron tomography using high-angle annular dark-field mode in a scanning transmission electron microscope. Selective area growth on GaN-on-sapphire templates using a p...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلفون الرئيسيون:	Lars Nicolai, Žarko Gačević, Enrique Calleja, Achim Trampert
التنسيق:	Artigo
اللغة:	Inglês
منشور في:	SpringerOpen 2019-07-01
سلاسل:	Nanoscale Research Letters
الموضوعات:	Electron tomography STEM (In,Ga)N/GaN nanowire Dot-in-a-wire Morphology
الوصول للمادة أونلاين:	http://link.springer.com/article/10.1186/s11671-019-3072-1
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!