Control charts using half-normal and half-exponential power distributions using repetitive sampling
Abstract This manuscript presents the development of an attribute control chart (ACC) designed to monitor the number of defective items in manufacturing processes. The charts are specifically tailored using time-truncated life test (TTLT) for two lifetime data distributions: the half-normal distribu...
சேமிக்கப்பட்டது:
| முதன்மை ஆசிரியர்கள்: | , , , , , |
|---|---|
| வடிவம்: | Artigo |
| மொழி: | Inglês |
| வெளியிடப்பட்டது: |
Nature Portfolio
2024-01-01
|
| தொடர்: | Scientific Reports |
| ஆன்லைன் அணுகல்: | https://doi.org/10.1038/s41598-023-50137-w |
| குறிச்சொற்கள்: |
டாக்ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!
|