Rapid Uniformity Analysis of Fully Printed SWCNT-Based Thin Film Transistor Arrays via Roll-to-Roll Gravure Process

The roll-to-roll (R2R) gravure process has the potential for manufacturing single-wall carbon nanotubes (SWCNT)-based thin film transistor (TFT) arrays on a flexible plastic substrate. A significant hurdle toward the commercialization of the R2R-printed SWCNT-TFT array is the lack of a suitable, sim...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلفون الرئيسيون:	Yunhyok Choi, Younsu Jung, Reem Song, Jinhwa Park, Sajjan Parajuli, Sagar Shrestha, Gyoujin Cho, Byung-Sung Kim
التنسيق:	Artigo
اللغة:	Inglês
منشور في:	MDPI AG 2023-02-01
سلاسل:	Nanomaterials
الموضوعات:	roll-to-roll gravure thin film transistor arrays uniformity probing instrument
الوصول للمادة أونلاين:	https://www.mdpi.com/2079-4991/13/3/590
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!