Experimental Investigation of Tip Wear of AFM Monocrystalline Silicon Probes
AFM has a wide range of applications in nanostructure scanning imaging and fabrication. The wear of AFM probes has a significant impact on the accuracy of nanostructure measurement and fabrication, which is particularly significant in the process of nanomachining. Therefore, this paper focuses on th...
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , , |
|---|---|
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
MDPI AG
2023-04-01
|
| Loạt: | Sensors |
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://www.mdpi.com/1424-8220/23/8/4084 |
| Các nhãn: |
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|