一起363kVGIS充电闪络故障的原因分析
分析了一起363kVGIS充电时闪络故障的原因,提出了GIS交接试验中做交流耐压试验的同时应进行局部放电的测量,并在条件许可的情况下进行操作冲击电压试验,以避免如绝缘子伤痕和裂痕、自由微粒、悬浮电位和异物遗留在GIS内部等原因而造成GIS故障。
Salvato in:
| Autori principali: | , , |
|---|---|
| Natura: | Artigo |
| Lingua: | Chinês |
| Pubblicazione: |
Editorial Department of High Voltage Apparatus
2007-01-01
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| Serie: | Gaoya dianqi |
| Soggetti: | |
| Accesso online: | http://www.zgydq.com/zh/article/70071754/ |
| Tags: |
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