一起363kVGIS充电闪络故障的原因分析
分析了一起363kVGIS充电时闪络故障的原因,提出了GIS交接试验中做交流耐压试验的同时应进行局部放电的测量,并在条件许可的情况下进行操作冲击电压试验,以避免如绝缘子伤痕和裂痕、自由微粒、悬浮电位和异物遗留在GIS内部等原因而造成GIS故障。
Kaydedildi:
| Asıl Yazarlar: | , , |
|---|---|
| Materyal Türü: | Artigo |
| Dil: | Chinês |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Editorial Department of High Voltage Apparatus
2007-01-01
|
| Seri Bilgileri: | Gaoya dianqi |
| Konular: | |
| Online Erişim: | http://www.zgydq.com/zh/article/70071754/ |
| Etiketler: |
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|