一起SF<sub>6</sub>封闭式组合电器故障的原因分析
介绍了一起由于盘式绝缘子脏污引起的SF6封闭式组合电器(GIS)故障。通过详实的试验,对GIS脏污缺陷的早期发现与预防提出了建议。
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Chinês |
| منشور في: |
Editorial Department of High Voltage Apparatus
2008-01-01
|
| سلاسل: | Gaoya dianqi |
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | http://www.zgydq.com/zh/article/70070653/ |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
