QR رمز

一起SF<sub>6</sub>封闭式组合电器故障的原因分析

介绍了一起由于盘式绝缘子脏污引起的SF6封闭式组合电器(GIS)故障。通过详实的试验,对GIS脏污缺陷的早期发现与预防提出了建议。

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: 葛猛, 陶安培
التنسيق: Artigo
اللغة:Chinês
منشور في: Editorial Department of High Voltage Apparatus 2008-01-01
سلاسل:Gaoya dianqi
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://www.zgydq.com/zh/article/70070653/
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!