一起SF<sub>6</sub>封闭式组合电器故障的原因分析
介绍了一起由于盘式绝缘子脏污引起的SF6封闭式组合电器（GIS）故障。通过详实的试验,对GIS脏污缺陷的早期发现与预防提出了建议。
Gorde:
| Egile Nagusiak: | , |
|---|---|
| Formatua: | Artigo |
| Hizkuntza: | Chinês |
| Argitaratua: |
Editorial Department of High Voltage Apparatus
2008-01-01
|
| Saila: | Gaoya dianqi |
| Gaiak: | |
| Sarrera elektronikoa: | http://www.zgydq.com/zh/article/70070653/ |
| Etiketak: |
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
|