QTL Mapping of Yield-Related Traits in Tetraploid Wheat Based on Wheat55K SNP Array
To enhance the understanding of yield-related traits in tetraploid wheat, it is crucial to investigate and identify genes that govern superior yield characteristics. This study utilized the wheat55K single nucleotide polymorphism array to genotype a recombinant inbred line (RIL) population consistin...
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , , , , , , , , , , , |
|---|---|
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
MDPI AG
2024-05-01
|
| Loạt: | Plants |
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://www.mdpi.com/2223-7747/13/10/1285 |
| Các nhãn: |
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|