QTL Mapping of Yield-Related Traits in Tetraploid Wheat Based on Wheat55K SNP Array
To enhance the understanding of yield-related traits in tetraploid wheat, it is crucial to investigate and identify genes that govern superior yield characteristics. This study utilized the wheat55K single nucleotide polymorphism array to genotype a recombinant inbred line (RIL) population consistin...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , , , , , , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
MDPI AG
2024-05-01
|
| سلاسل: | Plants |
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://www.mdpi.com/2223-7747/13/10/1285 |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|