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Parameter Optimization on a Tessellation Model for Crack Pattern Simulation

The capabilities of a parametric model for crack patterns simulation are presented. Planar tessellations are partitions of the plane into convex polygons (called cells) without overlapping. The Voronoi tessellations and Poisson line tessellations are the most prominent models; however, to model crac...

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Detalhes bibliográficos
Principais autores: Roberto Leon, Elizabeth Montero, Werner Nagel
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: IEEE 2023-01-01
coleção:IEEE Access
Assuntos:
Acesso em linha:https://ieeexplore.ieee.org/document/10310187/
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