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A TESSELLATION MODEL FOR CRACK PATTERNS ON SURFACES

This paper presents a model of random tessellations that reflect several features of crack pattern. There are already several theoretical results derivedwhich indicate that thismodel can be an appropriate referencemodel. Some potential applications are presented in a tentative statistical study.

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Detalhes bibliográficos
Principais autores: Werner Nagel, Joseph Mecke, Joachim Ohser, Viola Weiss
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: Slovenian Society for Stereology and Quantitative Image Analysis 2011-05-01
coleção:Image Analysis and Stereology
Assuntos:
Acesso em linha:http://www.ias-iss.org/ojs/IAS/article/view/832
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