QR رمز

A Study on the Resolution and Depth of Focus of ArF Immersion Photolithography

In this study, the resolution and depth of focus (DOF) of the ArF immersion scanner are measured experimentally according to numerical aperture (<i>NA</i>). Based on the experiment, the theoretical trade-off relationship between the resolution and depth of focus can be confirmed and <i>k</i><sub>1</...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Jungchul Song, Chae-Hwan Kim, Ga-Won Lee
التنسيق: Artigo
اللغة:Inglês
منشور في: MDPI AG 2022-11-01
سلاسل:Micromachines
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://www.mdpi.com/2072-666X/13/11/1971
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!